热释光退火炉价格

热释发光原理

热释发光的强度随发光体的温度的变化曲线叫热释光曲线。测量时先在低温（如液He或液N 温度）下激发发光体。选择加热方式，可按分析数据的需要采取各种时间函数的变化，常用的是线性加热。当发光体从低温开始受热升温时，浅陷阱中的电子先受热激发到导带，热释光曲线上升，温度上升到T时，曲线出现峰值，陷阱释空时，曲线下降。温度继续上升，在另一温度T时，曲线又出现峰值，对应于另一更深的陷阱。从曲线高峰的数目可推断陷阱大致分为几种深度，从高峰位置对应的温度可估计陷阱深度。 近来由于测试技术的进步，可以测量发光光谱随温度的变化。利用热释光曲线研究陷阱是研究固体的一种简单而重要的方法，此外，还可利用热释发光现象推断一些古物的年代。物体受射线辐照时间越长，陷阱中俘获的电子数越多，热释发光光和（热释发光曲线下面的面积）也越大，因此能反映发光体受辐照的历史。测量样品的热释发光光和并与参照样品作比较，原则上可推断化石等样品的年代。热释发光及光释发光现象作用相同，都是释放陷阱电子，利用热释发光也可制作剂量计。

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能响的标定

不同的热释光磷光体在不同的能量区间响应是不同的(特征发光峰)，即不同的能量区间训一数率有别，但在实际应用时，辐射场的能谱各自不同，为使用和评价方便需进行能响刻度，使其归1化，即无论在任何能量下，读数值是一致的，因而一些热释光元件在投放使用前要做能量补偿，用一些金属材料，根据需要制成不同形状的能响补偿器，削去突起峰，将发光曲线拉直，使其适用于任何辐射场的测量需要。

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退火

热释光剂量计是利用屏，体中的空穴储存射线的能量而估计射线的照射剂量的，因而每次测量后需经退火将残留剂量去除，以免影响下一次的使用，不同的热释光剂量训一需要不同的退火温度，所以温度的选择是十分重要的，温度高了可能损坏剂量元件，反之，热释光退火炉价格，温度低了残留剂量去除不净，所以退火装置的温度要严格控制，尤其具有多个发光峰的热释光元件，需在不同温度下多次退火，所以更应慎重。对于有些片状的剂量元件，退火时还应注意元件的变形问题，否则会影响测量结果。一般情况下，退火后对剂量元件迅速降温，可提高剂量元件的灵敏度(玻璃管的剂量剂须注意爆裂问题)。

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